402/02.07.02/2025 / Scanning Electron Microscope

Määräaika: 2.5.2025 14:00 (UTC+03:00)
Määräaikaan:

Tiivistelmä

Katso samankaltaisia mahdollisuuksia
Kaikkien tietojen näyttäminen vaatii rekisteröitymisen ja kirjautumisen palveluun.
402/02.07.02/2025 / Scanning Electron Microscope
Hankintailmoitus­tyyppi
Kilpailu [TED eF[16]]
Julkaistu
1.4.2025 14:31 (UTC+03:00)
Kysymysten jätön määräaika
11.4.2025 14:00 (UTC+03:00)
Tarjousten määräaika
2.5.2025 14:00 (UTC+03:00)
Organisaatio
Itä-Suomen yliopisto
Kuvaus
Instrument to be purchased is a Scanning Electron Microscope (SEM) for 200 mm standard wafer compatibility. An automated measurement over entire wafer is required. Also, EDS detector and 3D metrology are required. The instrument shall include standard back scattered electrons and secondary electrons detectors as well as cathodoluminescence detector. The SEM to be purchased will replace our current LEO 1550 used since 1997.
Takaisin julkaisuihin